Infineon MOSFET, Gate-drivare, 20 A, 25 Ben 16 V, PQFN

Mängdrabatt möjlig

Antal (1 förpackning med 2 enheter)*

56,45 kr

(exkl. moms)

70,562 kr

(inkl. moms)

Add to Basket
välj eller skriv kvantitet
Tillfälligt slut
  • Leverans från den 30 juli 2026
Behöver du mer? Ange den kvantitet du behöver och klicka på "Kontrollera leveransdatum"
Enheter
Per enhet
Per förpackning*
2 - 1828,225 kr56,45 kr
20 - 4824,865 kr49,73 kr
50 - 9823,185 kr46,37 kr
100 - 19821,45 kr42,90 kr
200 +19,77 kr39,54 kr

*vägledande pris

Förpackningsalternativ:
RS-artikelnummer:
258-4042
Tillv. art.nr:
TDA21520AUMA1
Tillverkare / varumärke:
Infineon
Hitta liknande produkter genom att välja ett eller flera attribut.
Välj alla

Varumärke

Infineon

Produkttyp

Gate-drivare

Utström

20A

Antal ben

25

Kapseltyp

PQFN

Typ av drivsteg

MOSFET

Minsta matningsspänning

4.25V

Maximal matningsspänning

16V

Minsta arbetsstemperatur

-40°C

Maximal arbetstemperatur

125°C

Längd

4mm

Bredd

5 mm

Standarder/godkännanden

Lead free RoHS package

Serie

TDA21520

Höjd

0.9mm

Fordonsstandard

Nej

The Infineon OptiMOS power stage is integrated power-stage contains a low quiescent current synchronous buck gate-driver IC which is co-packed with control and synchronous MOSFETs along with an active diode structure that achieves low Vsd similar to a Schottky with very little reverse recovery charge. The package is optimized for PCB layout, heat transfer, driver/MOSFET control timing, and minimal switch node ringing when layout guidelines are followed. The paired gate driver and MOSFET combination enables higher efficiency at lower output voltages. The internal MOSFET sensing achieves superior current sense accuracy vs best-in-class controller-based Inductor DCR sense methods.

High-side MOSFET short detection and flag

Thermal shutdown

Cycle-by-cycle over current protection and fault flag

Auto-sleep and deep-sleep mode for power saving

Compatible with 3.3-V tristate PWM input

Accurate current reporting to improve system level performance

Current and temperature fault monitoring for a more robust system

Relaterade länkar